隨著科學技術的進步，在陶瓷球磨機生產過程中的顆粒檢測操作中，引進了新的技術與方法，因此對磨機內顆粒特性的研究將會更加的有利，同時對其所進行的研究也會更加的深入，在此過程中還出現了許多新的理論及分析技術。
在對以上技術進行分析的過程中我們會發現，目前的陶瓷球磨機顆粒特性研究操作還存在一些問題，具體包括：
1、因為國內外的圖像儀設備其通用性都比較強，但是和業的相比較，還是有一定的區別的，因此不會被應用于業研究操作中。
2、只能夠提供較簡單的測量數據，更加細致的數據資料則需要進行再次處理才可以獲取，對于操作者來講還是達不到要求的。
3、不具備操作者所進行的二次開發接口的條件，因此在進行新性能開發的時候就會比較困難。
4、投資成本比較大，需投入資金大于8萬美金。
以上(shang)提到的(de)(de)不(bu)足之處(chu)，和(he)陶(tao)瓷球磨機(ji)中的(de)(de)粒(li)(li)(li)度(du)檢(jian)測(ce)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)優(you)勢相比較，是(shi)微乎(hu)其(qi)微的(de)(de)，從某種(zhong)意義上(shang)來(lai)講，數學(xue)圖像處(chu)理(li)技術(shu)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度(du)檢(jian)測(ce)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)具備其(qi)他操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)所(suo)無法(fa)企及(ji)的(de)(de)優(you)勢，在這里(li)，我們將(jiang)圖形處(chu)理(li)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度(du)檢(jian)測(ce)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)應用于陶(tao)瓷球磨機(ji)的(de)(de)筒體(ti)內(nei)部粉(fen)體(ti)粒(li)(li)(li)度(du)檢(jian)測(ce)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)中，操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)過(guo)程在計算機(ji)的(de)(de)操(cao)(cao)控(kong)下(xia)完成(cheng)，沒(mei)有任何人工(gong)參(can)與(yu)，從其(qi)所(suo)獲得的(de)(de)粒(li)(li)(li)度(du)分布(bu)結果(guo)來(lai)看(kan)，其(qi)不(bu)論(lun)是(shi)檢(jian)測(ce)速率還是(shi)結果(guo)都(dou)是(shi)比較快速且穩(wen)定的(de)(de)，由此(ci)可(ke)見(jian)，在陶(tao)瓷球磨機(ji)中所(suo)實施的(de)(de)粒(li)(li)(li)度(du)檢(jian)測(ce)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)還是(shi)非常有效的(de)(de)。
